WM-811k Augmented & Preprocessed dataset

Semi-Conductor Wafer Map Defect Detection半导体晶圆图缺陷检测（Semi-Conductor Wafer Map Defect Detection）

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集是WM-811k的增强与预处理版本，专门用于半导体晶圆图缺陷检测任务。其特点在于经过数据增强和预处理，旨在提升机器学习模型在晶圆缺陷识别中的性能。