直通波导硅光芯片的单通道耦合效率数据

为研究光电阵列芯片的并行光耦合设计方案，需要进行硅光芯片的单通道耦合效率测试，通过将光纤阵列与硅光芯片的测试通道进行对准耦合，对测试通道出入端口进行通光测试，测量整个链路通光效率，采用光功率计测试并记录阵列芯片8个通道出入端口的出光功率数据，数据量为30.4MB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集旨在研究光电阵列芯片的并行光耦合设计方案，通过测试硅光芯片的单通道耦合效率，记录了8个通道出入端口的出光功率数据。数据量为30.4MB，包含jpg、xlsx、pdf和docx格式文件。