Surface Topography Challenge: Smooth Sample C35
收藏数据链接：
官方服务：
资源简介：
CrN surface on polished Si wafer analyzed using SEM, AFM, and Optical Profilometry.
提供机构：
contact.engineering创建时间：
2025-01-30
社区交流群
科研交流群
商业服务
CrN surface on polished Si wafer analyzed using SEM, AFM, and Optical Profilometry.