射频信号接口的反射S11原始数据

主要面向薄膜铌酸锂芯片封装射频性能研究。对于高速光电器件，射频封装后的反射S11可以表征射频封装的优劣。方法为使用网络分析仪测试了封装好的薄膜铌酸锂高速器件的S11反射数据。数据量为一只器件的四个通道。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集提供薄膜铌酸锂芯片封装后射频接口的反射S11原始数据，用于评估高速光电器件射频封装性能。数据通过网络分析仪采集，涵盖单个器件的四个通道，以s2p、pdf、png、docx等格式存储，共10个文件，总数据量4.32MB。