多通道光模块可靠性测试单板性能及关键工艺数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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多通道光模块可靠性测试单板性能及关键工艺数据主要面向多通道光模块可靠性测试研究，在实验室环境下，对误码分析仪读数获得，研究关键工艺与可靠性获得。主要记录了三维封装可靠性测试系统的多通道光模块可靠性测试单板通道速率数据、关键工艺数据，对应课题三指标1.2多通道光模块可靠性测试单板通道速率≥25GBaud，内含1个数据集说明文件，1个报告，1个文件夹。数据量11.8MB。
提供机构：
中兴通讯股份有限公司搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集聚焦于多通道光模块的可靠性测试研究，记录了三维封装可靠性测试系统中单板的通道速率及关键工艺数据。数据来源于国家重点研发计划项目'光电子集成芯片的三维封装技术'，旨在支持相关工艺与可靠性的分析。
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