薄膜电容膜厚检测数据

本报告是由厦门法拉电子股份有限公司委托第三方所对开发的电容样件进行检测并编写。所测项目来自课题任务书指标，结果均为通过。依据标准GB/T 13542.2-2009《电气绝缘用薄膜 第2部分：试验方法》的要求，对电容器样品进行膜厚测试。测试结果1#-A膜厚平均值2.3uμm，最大值2.4μm，最小值2.3μm；1#-B平均值3.8μm，最大值3.9μm，最小值3.8μm。