物联网低功耗MCU芯片低速时钟频率测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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介绍数据的时间范围、时间精度、空间范围、空间精度、计算方式等。 数据内容:本项数据是测量低功耗物联网MCU在运行时的低速时钟,示波器通过测试点测量其一定时间内的电压变化频率,并使用示波器的存储功能将测试结果保存为csv格式文件。 测试设备:Keysight DSOX4024A示波器。 测试条件:本项数据在室温环境下采集,芯片供电3V,万用表精度为6位半,测量误差不超过1nA。 对应指标:低功耗物联网MCU芯片低速时钟频率。
提供机构:
东南大学搜集汇总
数据集介绍

背景与挑战
背景概述
该数据集由东南大学刘新宁提供,记录了低功耗物联网MCU芯片在运行时低速时钟的频率测试结果。测试使用Keysight DSOX4024A示波器在室温环境下采集电压变化频率,数据保存为CSV格式,共2个文件、25.94KB,来源于国家重点研发计划项目。
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