硅基芯片与光纤耦合损耗测试

包含了2024年12月20日测量光纤到调制器端口耦合效率的实验平台、实物照片、电源表供电电流以及相关功率测试结果。光纤阵列-硅基光波导芯片耦合测试使用积分球功率计测试O波段激光器出光功率。测试硅光调制器芯片上U型波导结构的端面耦合器与光纤耦合损耗：U型波导结构由两个端面耦合器SSC与一段很短的波导组成，其中波导损耗可忽略不计。测试硅光调制器芯片进光口与出光口间调制器片上损耗：其中O波段激光器通过光纤跳线与芯片进光口的耦合光纤连接，芯片出光口的耦合光纤连接积分球功率计，电源表通过直流探针为调制器芯片供电。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于硅基光波导芯片与光纤的耦合损耗测试，涵盖了光纤到调制器端口耦合效率的测量实验平台、实物照片及相关功率测试结果。具体包括使用积分球功率计测试O波段激光器出光功率，以及评估U型波导结构端面耦合器与光纤的耦合损耗和调制器片上损耗。