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面向量子纠错和反馈的高保真度量子门开发

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在30量子比特芯片样品上实现了,实现了双比特门保真度最高达到99.3%。在30比特芯片样品上,通过整体优化量子比特的工作参数,矫正单比特量子门脉冲波形,测试电子学设备,同步微波源时钟抑制串扰,大幅度提高单比特门保真度最高达到99.76%。在10量子比特芯片样品上,在完成单比特性能整体优化的基础上,测定等效耦合强度g和耦合器zpa的关系,然后根据公式π= g*CZ_len计算工作点。在计算的工作点小范围内改变zpa,根据相位差为π时,确定CZ门耦合器的精确工作点。数据集主要包含单比特门与两比特门的优化过程记录,优化测试数据和可视化结果。

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数据集介绍
面向量子纠错和反馈的高保真度量子门开发 数据集图片
背景与挑战
背景概述
该数据集聚焦于开发用于量子纠错和反馈的高保真度量子门,在30量子比特芯片上实现了双比特门保真度最高99.3%和单比特门保真度最高99.76%,并包含在10量子比特芯片上优化CZ门工作点的过程记录、测试数据及可视化结果。
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