超薄BP(黑磷)纳米片

本数据集包括：测定样品形貌的透射电子显微镜（TEM），具体，将样品均匀分散于乙醇溶液后滴加于300目C支持膜铜网上。自然挥发干燥后120℃烘干~30分钟。样品在透射电镜JEOL 2010-TEM进行测试。操作电压为200 k。图像采集保留时间为10 ms每像素。采集分辨率为78 pm。样品为纳米片状，尺寸约几百纳米。测定厚度的原子力显微镜（AFM），具体，将样品将样品均匀分散于乙醇溶液后滴加于云母片上，在eeco DI Nano-scope MultiMode V系统下进行AFM测试，扫速为1.00 Hz。样品厚度大约为3~4层。测定结构的拉满光谱（Raman），测试样品拉曼表征来确定样品物相。具体，将样品粉末压在玻璃片上，放在RenishawRM3000拉曼系统中测试。证明样品震动为黑磷纳米片的振动峰。测定元素成分的光电子能谱（XPS），通过对不同样品先处理后转移测试中心，对P元素的键能信息测试，价态信息测试以及价带的测试（由理化测试中心XPS负责老师测试。数据分析经由本实验室老师同学与合作课题组资深专家确认。）

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集提供了超薄黑磷纳米片的表征数据，包括透射电子显微镜、原子力显微镜、拉曼光谱和光电子能谱的测试结果，用于分析样品的形貌、厚度、结构和元素组成。数据来源于中国科学技术大学，属于国家重点研发计划项目的一部分。