RAW IV Curve Data

Name: RAW IV Curve Data
Creator: Sharma, Dr.Someshwer; Urhekar, Shilpa; Bhargava, Ms. Mahima; Sharma, Dr. Madhu
Published: 2023-02-03T00:00:00+08:00

Figshare2023-02-03 更新2026-04-08 收录

器件测试

半导体特性

数据链接：

https://figshare.com/articles/dataset/RAW_IV_Curve_Data/22006802/1 数据链接链接失效反馈

官方服务：

资源简介：

The measured values of current and voltage in a .CSV file as measured by the IV Curve tracer

提供机构：

Sharma, Dr.Someshwer; Urhekar, Shilpa; Bhargava, Ms. Mahima; Sharma, Dr. Madhu

创建时间：

2023-02-03

相干接收器件3dB带宽测试数据

器件测试

光电效应

相干接收器件3dB带宽用于评估相干接收机高频光电效应的性能，是评估相干接收器件光电转换速率的关键指标之一，测试主要来源于课题任务书中关于1Tb/s相干光收发器件指标1.3-相干接收器件带宽指标的要求，数据是基于理论计算或在实验室条件下通过网络分析仪、稳压电源、可调窄线宽激光器等科学仪器采集处理得到的，主要记录了相干接收器件4路射频通道的S21曲线，其中曲线3dB衰减点对应的调制信号频率即为相干接收

国家基础学科公共科学数据中心650

CMOS和超陡摆幅新器件电性参数测试数据

器件测试

集成电路制造

该数据集为开发TFET-CMOS平台试验晶圆收集WAT测试的数据图表，数据来源为中芯北方集成电路制造（北京）有限公司生产线，包括了各片晶圆的工艺试验条件（split table）以及完成全流程后的MOSFET及超陡摆幅新器件（TFET）的WAT测试数据，数据生成地点为中芯北方P2 WAT部门，采集时间为2023-02至2023-06，数据量约为80MB，包含了文件、表格及图片。

国家基础学科公共科学数据中心270

Theoretical insights into narrow bandgap CuFeS2 chalcopyrite for thermophotovoltaic applications

光热材料

半导体特性

Data Files: The submission has 15 files with extension .xlsx, labelled "Data" can be accessed through microsoft excel files. The Data file has 16 Figures. Each figure shows the specific result of CuF

NIAID Data Ecosystem90

90°光学混频器相位误差和共模抑制比测试数据

光子通信

器件测试

关键考核指标的支撑数据集，主要面向课题“1Tb/S 相干光接收芯片和器件”指标检测的需求，基于武汉网锐检测科技有限公司信息产业光通信产品质量监督检验中心的第三方测试产生，主要记录了90°光学混频器相位误差和边摸抑制比的测试数据。数据量1.53MB。

国家基础学科公共科学数据中心540

相干调制器件3dB带宽测试数据

光子通信

器件测试

相干调制器件3dB带宽用于评估相干调制器高频电光效应的性能，是评估相干调制器件电光转换速率的关键指标之一，测试主要来源于课题任务书中关于1Tb/s相干光收发器件指标1.1-相干调制器件带宽指标的要求，数据是基于理论计算或在实验室条件下通过网络分析仪、稳压电源、可调窄线宽激光器等科学仪器采集处理得到的，主要记录了相干调制器件4路射频通道的S21曲线，其中曲线3dB衰减点对应的调制信号频率即为相干调制

国家基础学科公共科学数据中心170

RAW IV Curve Data

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