25G可调激光器芯片波长调谐范围及边模抑制比数据

可调谐激光器芯片光谱测试，所采用设备为日本WaveCyber定制的芯片全自动耦合测试系统。由于可调谐激光器是由分布式反馈激光器（DFB） 半导体放大器（SOA）前光栅（FM）后光栅(BM) 相位区(Phase)相集成，测量需要多个高度精密、能够稳定输出的电流源，我们全自动耦合测试系统完全满足测试条件。给分布式反馈激光器加载一定区间内电流（比如150mA），电流增大步进相同，同时给半导体放大器加载一定电流（比如150mA），将可调谐激光器芯片发射的激光通过光纤引入光谱仪即可得到可调谐激光器芯片的光谱，随后可从光谱中读取可调谐激光器芯片波长调谐范围 边模抑制。存有.bmp和.csv两个文件，

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集包含25G可调激光器芯片的光谱测试数据，通过全自动耦合测试系统测量其波长调谐范围和边模抑制比。数据以.bmp和.csv格式存储，源自国家重点研发计划项目。