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Automated Defect Classification in Wafer Fabricati

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kaggle2025-11-11 更新2026-02-14 收录
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**Abstract:** This paper proposes a novel Automated Defect Classification (ADC)

**摘要:** 本文提出了一种新颖的自动化缺陷分类(Automated Defect Classification, ADC)

创建时间:
2025-11-11
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