Micro-LED器件性能测试方法研究
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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面向Micro-LED微显示工程化需求，设计并搭建一种Micro-LED器件性能测试方法和，主要记录了Micro-LED器件的I-V特性、L-V特性、色漂特性、寿命T50等数据，数据量4.0MB。
To meet the engineering requirements of Micro-LED microdisplay industrialization, a performance testing method for Micro-LED devices was designed and established. This dataset mainly records data such as I-V characteristics, L-V characteristics, color drift characteristics, and lifetime T50 of Micro-LED devices, with a total size of 4.0 MB.
提供机构：
厦门市三安光电科技有限公司搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集记录了Micro-LED器件的性能测试数据，包括I-V特性、L-V特性、色漂特性和寿命T50等，数据量为5.82MB，包含15个文件。数据集由福州大学的张永爱发布，属于国家重点研发计划项目的一部分。
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