ARPES研究SrIrO3的金属绝缘体相变

我们结合脉冲激光沉积(PLD)和角分辨光电子能谱(ARPES)技术，原位地研究了SrIrO3薄膜中厚度驱动的金属绝缘体相变(MIT)。通过插入CaTiO3缓冲层，控制IrO6氧八面体旋转自由度。解释了SrIrO3薄膜中由维度驱动的MIT与晶格结构转变没有必然的联系，而是由能带宽度的降低导致。数据量约为10.2G。

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背景与挑战

背景概述

该数据集通过脉冲激光沉积和角分辨光电子能谱技术，原位研究了SrIrO3薄膜中厚度驱动的金属绝缘体相变。研究利用CaTiO3缓冲层控制氧八面体旋转，揭示了相变主要由能带宽度降低引起，与晶格结构转变无关。数据集包含2.68GB的数据，共35个文件。