Digital surface twin #A66
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AFM Contact and Tapping mode images AFM model: veeco diinova Resolution is limited by tip radius ~ 20nm
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）接触模式与轻敲模式成像图。 所用AFM型号为Veeco Di Innova。 成像分辨率受针尖半径限制，约为20纳米。
提供机构：
contact.engineering创建时间：
2025-04-28
